CST中，如何進行參數(shù)化掃描分析

在用CST進行仿真設(shè)計的過程中，經(jīng)常需要對某一些參數(shù)進行參數(shù)化設(shè)置，并對這些參數(shù)進行仿真對比。這一期，我們介紹下如何進行參數(shù)化掃描。

還是借用仿真實例001：圓極化平板天線仿真01，之前已經(jīng)對饋電位置、貼片的長和寬都進行了參數(shù)設(shè)置，如下圖所示：

默認的饋電位置在x=45mm，y=0mm的地方，如下圖所示：

設(shè)置參數(shù)掃描

在仿真設(shè)計中經(jīng)常會碰到這樣的情況，想觀察一下不同的饋電位置，天線的性能（如S參數(shù)）有什么變化。這里我們就來演示下如何進行參數(shù)化掃描，首先點開Par.sweep，如下圖所示：

先點擊New Sequence，再點New parameter，我們對feed_x進行如下圖設(shè)置，即掃描饋電位置在25\35\45時的情況。

設(shè)置好的參數(shù)掃描如下圖所示。點擊Result Template，選擇需要對比的內(nèi)容。

設(shè)置后處理模板

CST后處理模板功能非常強大，用戶可以通過模板內(nèi)的各種功能進行選擇操作，幾乎可以得到任何關(guān)心的結(jié)果。比如我還想對比下不同饋電位置，對最大增益的影響。這里我們選擇一個最大增益，來作為對比，作為示例，如下圖所示：

選擇好的后處理模版如下圖所示：

點擊Close返回到Parameter Sweep界面，并點擊Start開始仿真。

仿真完成后，點擊1D Results\S-Parameter\S1,1，如下圖所示：

此時，不同饋電位置的S參數(shù)結(jié)果差別如下圖所示：

我們也可以選擇改看Smith Chart，如下圖所示：

也可以點擊Result Navigate，選擇需要比較的曲線，如下圖所示：

再點擊導(dǎo)航樹下的Tables\0D Results，如下圖所示：

得到天線增益隨不同饋電位置變化的曲線，如下圖所示：

小結(jié)

CST中不僅僅能對結(jié)構(gòu)尺寸參數(shù)進行掃描，只要用戶能輸入值的部分，大部分的項目都能進行參數(shù)化掃描。掃描對比的目標(biāo)也可以通過后處理模板進行設(shè)置，后處理部分我們后面會專門寫一期演示操作。

不同的版本可能會有點不同，在操作中如有問題可在文后或者后臺留言。